Przedmiot zlecenia: Wykonanie analiz laboratoryjnych materiału elektrodowego, związanych z realizowanym przez Zamawiającego projektem opracowania innowacyjnej technologii bezpośredniego, bezodpadowego recyklingu baterii litowo-jonowych z odzyskiem materiału wysokich zastosowań. Zamawiający: REGAIN Sp. z o.o. Kategoria: Usługi. Lokalizacja realizacji: Gdańsk, pomorskie. Termin składania ofert: 29.09.2026 09:00. Kod CPV: 73111000-3. Zakres podany w publicznym źródle: CZĘŚĆ 1: Analiza ICP (Inductively Coupled Plasma) – 31 analiz Badanie dotyczy oznaczanie składu pierwiastkowego próbek proszku elektrodowego metodą spektrometrii emisyjnej lub masowej z plazmą wzbudzaną indukcyjnie (ICP-OES lub ICP-MS), w szczególności zawartości metali i pierwiastków śladowych. Granica oznaczalności (LOQ) dla Li, Ni, Mn, Co, Al, Fe, Cu, Zn, Cr, Ca, K, Na poniżej 50µg/L (ppb). Zamówienie dotyczy wykonania 31 analiz w następującym harmonogramie czasowym: • I etap – do 30.11.2026: 18 • II etap – do 31.05.2027: 3 • III etap – do 31.05.2028: 5 • IV etap – do 31.05.2029: 5 Dodatkowe informacje zawiera dokument pn.: "Zapytanie ofertowe". CZĘŚĆ 2: Analiza SEM (Scanning Electron Microscopy) – 23 analizy Obrazowanie oraz badania morfologii i mikrostruktury materiałów z wykorzystaniem skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM), wraz z dokumentacją fotograficzną oraz analizą składu chemicznego EDS/EDX. Potrzebna rozdzielczość na poziomie nanometrowym (1,2 nm w trybie elektronów wtórnych SE) oraz wystarczająca rozdzielczość spektrometru EDS/EDX do rozróżnienia Mn, Fe, Co i Ni w materiałach bateryjnych. Zamówienie dotyczy wykonania 23 analiz w następującym harmonogramie czasowym: • I etap – do 30.11.2026: 10 • II etap – do 31.05.2027: 3 • III etap – do 31.05.2028: 5 • IV etap – do 31.05.2029: 5 Dodatkowe informacje zawiera dokument pn.: "Zapytanie ofertowe". CZĘŚĆ 3: Analiza AFM (Atomic Force Microscopy) – 23 analizy Badania topografii powierzchni oraz właściwości mechanicznych materiałów metodą mikroskopii sił atomowych (AFM), obejmujące obrazowanie powierzchni w skali nano- i mikrometrycznej oraz pomiary sił oddziaływania między materiałami. Wymagane wielokanałowe pomiarowanie jednocześnie obrazu wysokości, fazy, amplitudy i tarcia, a także pomiar krzywych siła-odległość (Force Curves). Rozdzielczość 0.1nm. Zamówienie dotyczy wykonania 23 analiz w następującym harmonogramie czasowym: • I etap – do 30.11.2026: 10 • II etap – do 31.05.2027: 3 • III etap – do 31.05.2028: 5 • IV etap – do 31.05.2029: 5 Dodatkowe informacje zawiera dokument pn.: "Zapytanie ofertowe". CZĘŚĆ 4: Analiza XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) – 21 analiz Badania składu chemicznego oraz stanów utlenienia pierwiastków na powierzchni materiałów metodą spektroskopii fotoelektronów wzbudzanych promieniowaniem rentgenowskim (XPS). Potrzebna rozdzielczość energetyczna systemu poniżej 0,5 eV (przy zmonochromatyzowanym źródle Al Kα). Zamówienie dotyczy wykonania 21 analiz w następującym harmonogramie czasowym: • I etap – do 30.11.2026: 8 • II etap – do 31.05.2027: 3 • III etap – do 31.05.2028: 5 • IV etap – do 31.05.2029: 5 Dodatkowe informacje zawiera dokument pn.: "Zapytanie ofertowe". CZĘŚĆ 5: Analiza BET (Brunauer–Emmett–Teller) – 33 analizy Wyznaczanie powierzchni właściwej, objętości i rozkładu porów materiałów na podstawie pomiarów adsorpcji i desorpcji gazów. Rozdzielczość 0,001 mmHg, czułość: powierzchnia właściwa 0,0005 m2/g, mikropory 0,0001 cm3/g. Zamówienie dotyczy wykonania 33 analiz w nas