Przedmiot zlecenia: Polska – Aparatura kontrolna i badawcza – Dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii. Zamawiający: Centrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii CEZAMAT Politechniki Warszawskiej. Kategoria: Dostawy. Lokalizacja realizacji: Warszawa, mazowieckie. Termin składania ofert: 30.09.2026 02:00. Zakres podany w publicznym źródle: Przedmiotem zamówienia jest dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii. 1.Przedmiotem zamówienia jest dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii. 2.Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia określony został w załączniku nr 2 do SWZ – Opis przedmiotu zamówienia.